Raster-Kraft-Mikroskop mit phasenaufgelöster Detektion des gestreuten optischen Nahfeldes (оригинал извещения) (Германия - Тендер #69832302) | ||
| ||
| Для перевода текста тендера на нужный язык воспользуйтесь приложением: | ||
Страна: Германия (другие тендеры и закупки Германия) Организатор тендера: Friedrich-Schiller-Universität Jena Номер конкурса: 69832302 Дата публикации: 10-01-2026 Источник тендера: Единая система закупок Европейского союза TED Осталось 2 дней |
||
Friedrich-Schiller-Universität Jena (ID: ORG-0001)
Address: , Jena, 07743
Contacts:
Tel: 000
Email: vergabestelle@uni-jena.de
Company ID: DE150546536
Thüringer Landesverwaltungsamt - Vergabekammer (ID: ORG-0002)
Address: , Weimar, 99423
Contacts:
Tel: 0361 57332 1254
Email: vergabekammer@tlvwa.thueringen.de
Company ID: 11111
Datenservice Öffentlicher Einkauf (in Verantwortung des Beschaffungsamts des BMI) (ID: ORG-0003)
Address: , Bonn, 53119
Contacts:
Tel: +49228996100
Email: noreply.esender_hub@bescha.bund.de
Company ID: 0204:994-DOEVD-83
Description: Die Friedrich-Schiller-Universität Jena möchte ein Raster-Kraft-Mikroskop mit phasenaufgelöster Detektion des gestreuten optischen Nahfeldes (scattering Scanning Nearfield Optical Microscope s-SNOM) beschaffen. Dieses soll die Charakterisierung der Anregungsdynamik nanostrukturierter Oberflächen unter Anregung mit kohärenter Laserstrahlung im sichtbaren bis infraroten Spektralbereich mit einer lateralen Ortsauflösung von 30 nm durch intensitäts- und phasenaufgelöste Vermessung des an einer Spitze gestreuten optischen Nachfeldes ermöglichen. Die technischen Leistungsparameter aus Anlage 2 sind mindestens zu erfüllen.
Issue Date: 08.01.2026 02:00
Submission Deadline: 10.01.2026 12:00
CPV Codes: 38000000
Documentation: