Тендеры России
Поиск
Optical Measurement and Testing Equipment for Semiconductor Manufacturing Industry 2D 3D Defect Detection for Wafer AOI (Йемен - Тендер #71301882) | ||
| ||
| Для перевода текста тендера на нужный язык воспользуйтесь приложением: | ||
Страна: Йемен (другие тендеры и закупки Йемен) Номер конкурса: 71301882 Дата публикации: 15-03-2026 Источник тендера: alibaba.com Закупки через Международные Маркетплэйсы |
||